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NanoMap-PS

NanoMap-PS 【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進口臺階儀 性價比高
NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM同款位移傳感器,超高精度
壓電陶瓷驅動掃描,無內源振動
自集成主動反饋式防震系統
真正無需額外輔助防震系統,實現高重復性納米測量
納米量級科學研究的必備產品
NanoMap-PS臺階儀可以應用在半導體,光伏/太陽能,光電子,化合物半導體,OLED,生物醫藥,PCB封裝等領域的薄膜厚度,臺階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應力(曲定量率半徑法)等定量測量方面。其高精度,高重復性,自動探索樣品表面,自動測量深受廣大客戶歡迎。
測量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設備傳感器精度高,穩定性好。熱噪聲是同類產品的。垂直分辨率可達0.1nm??蓽y表面,包括透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料,金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒等;
 AEP的技術日新月異。欲了解新的產品性能參數,請與我們聯系。

主要參數 :  
垂直分辨率            0.1nm
垂直量程        1000um
探針接觸力            0.03mg-100mg
平臺范圍             直徑150毫米(可選200毫米或更大)
高清圖像               4級放大,彩色CCD
成像光源               雙長壽命強光LED
金剛石探針            0.5um到25um可選
 


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